產(chǎn)品分類
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美國(guó)PRECITECH
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軸類檢查儀
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德國(guó)KB
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德國(guó)TS量?jī)x
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美國(guó)OGP光學(xué)影像測(cè)量機(jī)...
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氣動(dòng)量?jī)x
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德國(guó)OPTO遠(yuǎn)心鏡頭
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英國(guó)SG標(biāo)準(zhǔn)齒輪和花鍵量...
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德國(guó)HEXACON量?jī)x
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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
對(duì)于客戶和供應(yīng)商而言，表面紋理是確定外延半導(dǎo)體質(zhì)量的極其重要的參數(shù)
詳情介紹：
磊晶片測(cè)量
由于光電組件在電訊和顯示技術(shù)領(lǐng)域的的用途不斷擴(kuò)展，外延技術(shù)成為組件生產(chǎn)的關(guān)鍵技術(shù)。外延是指在單晶基片表面上沉積非常薄的半導(dǎo)體物質(zhì)層的過(guò)程。每個(gè)晶體層稱為外延層。
計(jì)量
表面粗糙度
對(duì)于客戶和供應(yīng)商而言，表面紋理是確定外延半導(dǎo)體質(zhì)量的極其重要的參數(shù)。對(duì)于目前的驅(qū)動(dòng)器而言，因?yàn)橐诠杵嫌∷⒌碾娐吩絹?lái)越小，所以粗糙度容差范圍變得更窄。磊晶片的表面粗糙度規(guī)定為納米級(jí)，所以這需要使用噪音非常低且分辨率高的系統(tǒng)來(lái)測(cè)量磊晶片。
